Gyors és pontos nanoréteg elemzése

FT160-asAsztaliaz XRFAz elemző célja a mai mérésPCB-kFélvezetők és mikrocsatlakozók kis alkatrészei. A kis alkatrészek pontos és gyors mérésének képessége növeli a termelékenységet és elkerüli a költséges újramunkítást vagy az alkatrészek hulladását.

FT160-asA polykapilláris optikai elemek mérhetők kevesebb, mint50 μm-esA nanoméretű bevonattal rendelkező fejlett detektortechnológia nagy pontosságot biztosít, miközben rövid mérési időt tart fenn. További funkciók, mint például a nagy mintázati asztal, a széles mintázati ajtó, a HD mintázati kamera és a szilárd megfigyelő ablak, könnyedén betölthetik a különböző méretű tárgyakat és megtalálhatják az érdeklődő területeket a nagy alaplapokon. Az elemző könnyen használható, az Önminőségi / minőségi ellenőrzésA folyamatok zökkenőmentesen integrálódnak, és figyelmeztetik Önt a problémaválság előtt.

Termék kiemelkedők

FT160-asAz optikai és érzékelő technológiák kifejezetten a mikrofényképes foltok és ultravékony bevonatok elemzésére tervezték, és a legkisebb jellemzőkre optimalizáltak.

Nagy megfigyelő ablak az elemzések biztonságos távolságból történő megtekintéséhez

A mérési módszer megfelelISO 3497 szabványés,ASTM B568 szabványésDIN 50987 szabványszabvány

IPC-4552B szabványés,IPC-4553A szabványés,IPC-4554 szabványésIPC-4556 szabványKonzistenciás bevonatvizsgálat

Gyors mintabeállítás automatikus jellemzői

Alkalmazásához optimalizált elemző konfiguráció

kevesebb, mint50 μm-esMérése jellemzői nanoméretű bevonat

Megduplázza a hagyományos műszerek analitikai áramlását

Nagy minták befogadása különböző formákban

Tartós tervezés hosszú távú gyártásra