A kutatási mikroszkóp előrehaladása, a látható evolúció!

Több éves technológiai innováció és optikai fejlődés után a Nikon új generációjátEclipse Ni-EA forradalmi moduláris kialakítású kutatási mikroszkópok olyan egyszerűvé és pontosan bővíthetők a különböző testreszabási rendszerekkel. ÚjCFILapos tér színeltérésLambdaA Nikon szabadalmazott nanokristály bevonatú technológiája a nagyobb átláthatóságot biztosítja a fényesebb, magasabb felbontású képek megjelenítésére. Kiváló széles tér és pontos lézeres világítás elektromos modulokkal. A Nikon új generációs kutatási minőségű mikroszkópja korlátlan kutatást tesz!

A rétegszerkezet növeli a rendszer bővíthetőségét

NikonAz egyedülálló rétegszerkezet egy mikroszkóp lehet, amely egyidejűleg két útvonalú optikai útvonalat kínál különböző alkalmazásokhoz. Ez a szerkezet fluorescáns világítást biztosít a szűrő forgótáblák vagy a fényképes aktiváló komponensek kettős rétegű optikai útvonalával, valamint a Nikon First által kínált fényképes aktiváló komponensek a pozitív mikroszkópokhoz.

Ni-E (objektív fókusz) elektromos fluoreszencia és fényképes aktiváló eszközökkel

Nagy sebességű elektromos alkatrészek

Nagy sebességű elektromos alkatrészek, amelyek különböző funkciókat kínálnak. A nagyobb sebességű elektromos stimulációs blokkoló szűrőkerék és az elektromos fényzár gyorsan megváltoztathatja a hullámhosszát, ezzel csökkentve a minta fényfehérítését. A könnyen kezelhető vezérlőgombokkal jelentősen növelheti a működési hatékonyságot.

Két cserélhető fókusz

A mikroszkóp két módon kínál hordozóasztal fókuszt és objektív fókuszt, és az elektromos fókusz rögzített hordozóasztal konfigurációja megfelel a többfotonos élő képalkotás és egyéb vizsgálatok követelményeinek.

Ni-E (objektív fókuszálás) multifotonikus rendszerrel

Objektív váltás automatikus beállítás

fényszemüveg, átületi fényszemüveg és látóterő fényszemüveg, valamintNDA szűrő a objektív váltásakor automatikusan a legjobb helyre kerül beállításra. Ezenkívül minden alkalommal, amikor a fogantyú forgatjaXYZA mozgás és a fókusztávolság eltérésének javítása is automatikusan beállítható. A mikroszkóp különböző beállításai kézzel is beállíthatók.

Megfigyelési mód automatikus váltása

Lehet nyilvánítani,DICA megfigyelési módszerek, mint például a különbség és a fluorescencia, az egyes gombokat meghatározzák, és a váltás befejezéséhez egyszerűen megérintse a megfelelő gombot. Ez nagyon hasznos, ha több megfigyelési módszert használnak ugyanazon példányon.

Nagy pontosságú elektromos fókusz

Ni-EKiváló pontosságZA tengely-fókusz technológia pontos magassági információkat biztosít a kofókuszos lézermikroszkóp igényeinek megfelelően. A független durva és finom gombok egyszerűsítik a műveletet.

Kiváló optikai teljesítmény

Mint optikai mikroszkópgyártó, a Nikon gazdag technológiát és tapasztalatot gyűjtött ezen a területen. A Nikon fejlett technológiája az optikai üveggyártástól a lencsék tervezéséig, összeszereléséig, bevonásaiig és feldolgozásáig terjed ki, így a Nikon optikai termékei páratlan teljesítményt nyújtanak.

Nagy teljesítményű objektívek

CFI Plan Apochromat λsorozat

A Nikon eredeti nanokristályos bevonatos technológiája rendkívül magas színvonalú objektíveket biztosítNAÉrtékek, hosszú hullámhossz tartományban jelentősen javult az áthathatóság, színkülönbség korrekció átnyúló435-850 nmNemcsak a nyilvánosságra ésDICMegfigyelés, és kiválóan alkalmas a fluorescencia megfigyelésére is. A lencsék bármely sávban fényes és tiszta képet kapnak a közeli infravörös és a többszínű fluorescens képalkotáshoz. Mivel fényes képeket lehet készíteni, még akkor is, ha a fény gyenge, a minta károsodása a minimumra csökkenthető.

Nanokristallás bevonat

A nanoméretű részecskékből álló tükrözésgátló bevonatot először alkalmazták a mikroszkóp objektívek gyártásában, és ösztönözték a Nikon fényképezőgépek fényképezőgépei számára a félvezetőgyártási technológiákat. Ez a durva szerkezet lehetővé teszi, hogy a részecskék szivacs szerkezetű módon kerüljenek elrendezésre, miközben egyenletes marad a részecskék közötti tér, ami jelentősen csökkenti a törési arányt és növeli a objektív fényátvitelét.

Víz tükör

A tárgyak sorozatahosszú munkatávolság,Nagy felbontású képalkotás vastag minták finom szerkezetéről megfigyelési módbanAz.NANagy, kiváló áthatékonyságot biztosít a közeli infravörös sávokban.40xés60xA objektív tengelyi színeltérése korrigált.850 nm，Lehet itt.IR-DIC

25xW MPés100xA tárgyak rendelkeznekNANagy (1.1Hosszú munkatávolság（2.0 mm）jellemzőiAz.Az ilyen objektívek színkülönbség-korrekciót végeznek az infravörös területen, és alkalmasak a többfotonos stimulációs megfigyeléshez. Ezenkívül a különböző hőmérsékletekben és különböző megfigyelési mélységekben bekövetkező gömb differenciális változásokat kompenzáló eszközöknek köszönhetően tiszta képeket készíthetnek a vastag minta mélységeiről.

Egységes világítás

“Számos szem”A lencse kiválóan alkalmas az átviteli világítási rendszerekhez. Egyenlős fényes világítás bármilyen nagyítás mellett a látóterő szélén is elérhető.

fluorescens zaj eltávolítása

A szűrőblokk forgótáblája és a szűrőblokk középpontjában a Nikon eredeti zajcsökkentő eszköze található. A szétszórt fény teljes eltávolításával és a jel-zaj arány jelentősen javításával a gyenge fluorescens jelek nagy kontraszttal és fényességgel készülhetnekAz.

| Egyszerű művelet

Könnyű digitális felvétel

A szemnek nem kell elhagynia a szemüvegét, csak nyomja meg a képfelvétel gombot a mikroszkóp alapjánAz.

3DErgonomikus tervezés

A mikroszkóp oldalán lévő gomboknak van egy bizonyos hajlása.，Könnyű érintéses művelet megfigyelés közbenAz.Egyszerű kijelző，A kijelzőn megjelenő mikroszkóp beállításainak könnyű megtekintése a megfigyelési helyrőlAz.

Független vezérlőDS-L3

Független vezérlővelDS-L3，Csatlakozás nélkülPCIgaz.Digital Sight A digitális fényképezőgépek sorozatának beállítása és üzemeltetéseAz.A képek a PC-ről is elérhetők a hálózaton keresztül.

• Az ikonok segítségével kiválasztható az egyes megfigyelési módszerek legjobb képparaméterei, és egyszerű mérések végrehajthatók.

• A digitális fényképezőgépek, elektromos mikroszkóp alkatrészek és perifériák teljes irányítása.

• Az elektromos vagy intelligens eszköz telepítése után a mikroszkóp állapotának adatai, például a objektívek, a fluorescáló szűrőblokkok és a fókuszkép információi automatikusan mentenek meg a felvett képekkel együtt.

• A különböző műveletek vezérléséhez egérrel vagy érintőképernyővel lehet használni.