Innovatív, kiváló képalkotási platform

Az ECLIPSE Ti2 példa nélküli 25 mm-es látóterületet (FOV) biztosít, ami radikálisan megváltoztatja a megfigyelési módját. Az áttörő nagy látóterületével a Ti2 a nagy célfelületű CMOS fényképezőgép érzékelőterületeit bármikor használhatja ki, és jelentősen növeli az adatgyűjtést.

Az ultra-nagy felbontású képalkotási rendszerekre szabott Ti2 hordozóasztal rendkívül stabil és eltolódás nélküli teljesítményt biztosít, és egyedülálló hardveri aktiváló funkciója a legszigorúbb nagy sebességű képalkotási kísérleteket is könnyen kezeli. A Ti2 egyedülálló intelligens modulja belső érzékelőadatokat gyűjt, hogy a felhasználót a képalkotási folyamatok során vezesse, és elkerülje a hibás műveleteket. Ezenkívül az adatgyűjtés során automatikusan rögzítik az egyes érzékelők állapotát, ami végül kiváló minőségű képalkotást eredményez, és javítja az adatok reprodukálhatóságát.

A Nikon NIS-Elements képgyűjtő és elemző szoftverével együtt a Ti2 megérdemli az innovációs vezető szerepet a képalkotás területén.

|Átförő kilátás

Ahogy a kutatási trendek nagyméretű, rendszerszintű megközelítésre alakulnak, a piac egyre nagyobb igényt igényel a gyorsabb adatgyűjtés és a nagyobb áramlási kapacitás iránt. A nagy célfelületű fényképezőgépek érzékelőinek fejlődése és a számítógépek adatfeldolgozási képességeinek javulása elősegítette ezt a kutatási trendet. A soha nem tapasztalható 25 mm-es látótávolsággal a Ti2 magasabb szintű mérhetőséget biztosít, amely lehetővé teszi a kutatók számára, hogy valóban maximalizálják a nagy célfelületi detektor szerepét, és biztosítsák, hogy alapvető képalkotási platformja alkalmazkodjon a jövő igényeinek a kamera technológia folyamatos gyors fejlődésével.

neuron mikrotubus festés (Alexa Fluor 488); A CFI Plan Apo lambda 60x objektív és a DS-Qi2 fényképezőgép segítségével készítsen képeket. A fenti kép a hagyományos látóterület, az alábbi pedig a Ti2 teljesen új látóterülete.
A fényképet Josh Rappoport, az Északnyugati Egyetem Nikon Imaging Center készítette.
A mintát S. Kemal, B. Wang és R. Vassar az Északnyugati Egyetem biztosította.

|Nagy kilátás világítása

A nagy teljesítményű LED-ek fényes világítást biztosítanak a Ti2 nagy látóterén, biztosítva az egyértelmű és következetes eredményeket olyan szigorú követelmények mellett, mint a nagy nagyítási arányú differenciális interferencia (DIC). A komplex lencse kialakításával a Ti2 egyenletes világítást biztosít az egyik oldalról a másikra. Ez nagy előnyökkel jár mind a nagy sebességű, mind a kvantitatív képalkotáshoz.

Nagy teljesítményű LED-es világítás

Beépített komplex szemlencse

A nagy látókörű képalkotáshoz kifejezett kompakt leszálló fluorescens világítást terveztünk. Kvarcz anyagból készült komplex szemvilágítási lencsékkel rendelkezik, és nagy áthatékonyságot biztosít a széles spektrumban, beleértve az ultraibolyát is. A kemény bevonatú nagy méretű fluorescens szűrők nagy látóterületet biztosítanak, miközben magas jel-zaj arányt biztosítanak.

Nagy látóterületű leszálló fluorescens világítás

Nagy méretű fluorescens szűrők

|Nagy átmérőjű fényútvonal megfigyelése

A fénypálya átmérőjének bővülésének megfigyelése lehetővé teszi a képalkotó portok 25 látóterének számát. Ennek eredményeként a nagy látóterület megközelítőleg kétszer annyi területet képes felvételni, mint a hagyományos lencse, így a felhasználó teljes mértékben kihasználhatja a nagy célfelületi érzékelők, mint például a CMOS-érzékelők teljesítményét.

Kibővített szemüveg

Nagy képport 25 látóterű

|Nagy látóterű képalkotáshoz használt objektívek

A kiváló képlapossággal rendelkező objektívek kiváló minőségű képet biztosítanak az egyik oldalról a másikra. Az OFN25 objektív teljes potenciáljának kihasználása jelentősen felgyorsítja az adatgyűjtési folyamatot.

|Kamerák nagy átviteli adatgyűjtéshez

A DS-Qi2 és a DS-Ri2 nagy sebességű színes fényképezőgép 36,0 x 23,9 mm-es, 16,25 megapixeles CMOS érzékelővel a Ti2 25 mm-es látóterének optimális teljesítményét biztosítja.

Mikroszkópokhoz optimalizált D-SLR kamera technológia

DS-Qi2

DS-Ri2

|Kiváló Nikon optikai eszközök

A Nikon nagy pontosságú CFI60 végtelen távolsági optikai készüléke különféle bonyolult megfigyelési módszerekhez készült, és a kutatók széles körben elismerik a kiváló optikai teljesítményét és a szilárd megbízhatóságát.

|A különbség az ujjak vágásában

A Nikon egyedülálló ujjvágó differációs objektívei kiválasztott ampliitási szűrőkkel jelentősen növelik a kontrasztot és csökkentik a halo illusziót, így finom, magas felbontású képeket kínálnak.

Az APC objektívbe integrált ujjvágási fázislemez

BSC-1 sejtek CFI S Plan Fluor ELWD ADM 40xC objektívvel

|Külső különbség (Ti2-E)

Az elektromos külső fázisos differációs rendszer a fázisos objektív használatának elkerülése révén a felhasználó a differációt a leszálló fluorescáns képalkotással kombinálja anélkül, hogy befolyásolja a fluorescáns hatékonyságát. Például a magas értékű átmérővel (NA) rendelkező folyadékmerülő objektíveket különbségképzéshez lehet használni. Ezzel a külső fázisrendszerrel a felhasználó könnyen kombinálhatja a fázisokat és egyéb képalkotási mintákat, beleértve a gyenge fluorescens képalkotást, például a TIRF-t és a fényképezőképeket.

Leszálló fluorescens és külső különbség képek:
GFP-alfa mikrotubulinával jelölt PTK-1 sejtek, a CFI Apo TIRF 100x olaj objektív segítségével készült fotó a Wadsworth Center VI. tudományos kutatója / Alexey Khodjakov professzora által

|DIC (Differenciális interferencia)

A Nikon dicsért DIC optikai eszközei egyenletes, finom, magas felbontású és kontrasztos képeket kínálnak minden nagyítási szorosan. A DIC Prism kifejezetten az egyes objektívekre szabott, és a legmagasabb minőségű DIC képet biztosít minden példányhoz.

Az egyes objektíveknek megfelelő DIC prizma telepítése a tárgytárcsába

Differenciális interferencia (DIC) és sugárzó fluorescens képek:
25 mm-es látószóméretű neuronkép (DAPI, Alexa Fluor 488, Rhodamine-Phalloidin); A CFI Plan Apo lambda 60x objektív és a DS-Qi2 fényképezőgép használatával készült fényképeket Josh Rappoport, az Északnyugati Egyetem Nikon Imaging Center biztosította; A mintát S. Kemal, B. Wang és R. Vassar az Északnyugati Egyetem biztosította.

|NAMC (Nikon Advanced Modulation Contrast)

Ez egy kompatibilis műanyaglemez nagy kontrasztos képalkotási technológia. Nem festett átlátszó mintákra, például petesejtekre alkalmazható. A NAMC szimulációs háromdimenziós képeket biztosít a vetítési hatásokkal. A felhasználó egyszerűen beállíthatja az egyes minták kontraszt irányát.

A NAMC szimulációs 3D képeket biztosít a vetítési hatásokkal

Nikon Advanced Modulation Contrast (NAMC) képek:
Egér embrió CFI S Plan Fluor ELWD NAMC 20x objektívvel

|Automatikus korrekciós gyűrű (Ti2-E)

A minta vastagsága, a borítólap vastagsága, a minta törési arányának eloszlása és a hőmérséklet változásai mind a gömb eltérést és a képtorzítást okozhatják. A legmagasabb minőségű objektívek gyakran rendelkeznek szabályozó gyűrűkkel, hogy kompenzálják ezeket a változásokat. A korrekciós gyűrűk pontos beállítása kulcsfontosságú a nagy felbontású és kontrasztos képek megszerzéséhez. A teljesen új automatikus korrekciós gyűrű a harmónikus meghajtás és az automatikus korrekciós algoritmusok segítségével a felhasználó minden alkalommal könnyedén a legjobb helyre állíthatja a objektív optimális teljesítményét.

Harmonikus meghajtó mechanizmus a korrekciós kör szabályozásának pontos vezérléséhez

Nagy felbontású kép (DNA Paint):
A CV-1 sejtek, amelyek kifejezik az alfa mikrotubulint (zöld) és a TOMM-20 (piros) a CFI Apo TIRF 100x olaj objektívvel.

|Leszálló fluorescencia

Az λ sorozat objektívei a Nikon szabadalmazott Nano Crystal Coat technológiájával rendelkeznek, így ideális a magas követelmények, gyenge jelek és többcsatornás fluorescens képalkotáshoz. Mert ezek az alkalmazások magas átviteli hatékonyságot és eltérési kalibrálást igényelnek a rendszerek széles hullámhosszati tartományban. Az új fluoreszenciás szűrők nagyobb fluoreszenciás átláthatósággal rendelkeznek, és olyan diffúziós fényeltávolító technológiákkal rendelkeznek, mint a Noise Terminator. Az ilyen fluorescáns szűrőkkel együtt az λ sorozat objektívei bebizonyították képességüket a gyenge fluorescáns megfigyelési területeken, beleértve az egymolekuláris képalkotást és a hideg fény alapú alkalmazásokat.

Harmonikus meghajtó mechanizmus a korrekciós kör szabályozásának pontos vezérléséhez

Hideg fényű képek:
Expresszió BRET alapú kalcium-indikator fehérje, nanokalcium ketrec Hela sejtek.
A mintát Dr. Takeharu Nagai, a Japán Osaka Egyetem Tudományos és Ipari Intézete biztosította.

|Tökéletes fókusz

Még a hőmérséklet legkisebb változása és a képalkotó környezet legkisebb rezgése is jelentősen befolyásolhatja a fókusz stabilitását. A Ti2 statikus és dinamikus intézkedéseket alkalmaz a fókuszfelület eltolódásának kiküszöbölésére, így hosszú távú kísérletek során valódi nano- és mikroszkópisz képeket jelenít meg.

|Mechanikai átalakítás rendkívül magas stabilitás érdekében (Ti2-E)

A fókuszstabilitás javítása érdekében az elektromos Z-tengely és a tökéletes fókuszrendszer (PFS) autofókuszszerkezetét alaposan áttervezték. Az új Z-tengely fókusz szerkezete kisebb méretű, és közvetlenül a tárgytárcsa mellett van a rezgés minimalizálása érdekében. Még a kiterjesztett (kettősrétegű optikai útvonal) konfigurációban is közel van a tárgytárcsának, ami kiváló stabilitást biztosít minden alkalmazásban.

Még bővített konfigurációkban is a magas stabilitású Z-tengely fókuszstruktúra közel van a tárgytárcsához

A Perfect Focus System (PFS) érzékelő részét elválasztották a tárgytárcsától, hogy csökkentsék a tárgytárcsán lévő mechanikai terhelést. Ez az új kialakítás a hőátvitelt is minimalizálja, és segít stabilabb képalkotási környezetet teremteni. Ezért az elektromos Z-tengely motorok energiafogyasztása is csökkent. Ezek a mechanikai átalakítások rendkívül magas stabilitást biztosítanak a képalkotó platformoknak, így kiválóan alkalmasak az egymolekuláris képalkotáshoz és az ultramagas felbontású alkalmazásokhoz.

|Új generációs autofókusz PFS rendszerrel: tökéletes (Ti2-E)

A legújabb generációs tökéletes fókuszrendszer (PFS) képes automatikusan kijavítani a hőmérsékletváltozás és a mechanikai rezgés által okozott fókusz eltérést (gyakran ez a zavar a mintához adott reagens és a többpontos képalkotás esetén).

A PFS valós idejben észleli és nyomon követi a referenciafelület helyét (például a fedőlap felületét, amikor egy víztöltő objektívet használ), és így a fókusz felületét tartja fenn. Az egyedülálló optikai kompenzációs technológia lehetővé teszi a felhasználó számára, hogy a referenciafelület bármely relatív pozíciójában tartsa a fókuszt. A felhasználó közvetlenül a kívánt síkra fókuszálhat, majd engedélyezheti a PFS-t. A PFS automatikusan működik beépített lineáris kódolókkal és nagy sebességű visszajelzési mechanizmussal, és megőrzi a fókusz felületét, így hosszú, bonyolult képalkotási feladatok során is megbízható képeket nyújt.

A PFS kompatibilis különböző alkalmazásokkal, a műanyag petri edényeken végzett hagyományos kísérletektől az egymolekuláris és többfotonos képalkotásig. Kompatibilis a különböző hullámhosszorokkal is, az ultraibolyától az infravörös fényig, ami azt jelenti, hogy többfotonos és fénypincés alkalmazásokban használható.

|Segítő varázsló

Nem kell többé emlékezni a bonyolult mikroszkóp kalibrálási és működési lépésekre. A Ti2 integrálja az érzékelőkből származó adatokat, hogy ezeken a lépéseken keresztül vezesse Önt, elkerülje az emberi műveleti hibákat, és lehetővé tegye a kutatók számára, hogy az adatokra összpontosítsanak.

|Folyamatos mikroszkópi állapot megjelenítése (Ti2-E/A)

A beépített érzékelők sorozata észleli és továbbítja a mikroszkóp egyes alkatrészeinek működési állapotát. Amikor egy képet használ a számítógépen, az összes állapotinformáció a metaadatokba kerül rögzítésre, így könnyen felhívhatja a gyűjtési feltételeket és/vagy ellenőrizheti a beállítások hibáit. Ezenkívül a beépített fényképezőgép lehetővé teszi a felhasználó számára, hogy megtekintse a hátsó fókusz síkot, és könnyedén kalibrálja a fázisgyűrűt és a DIC fénycsökkentő keresztjét. Biztonságos lézerkalibrációs módszert is kínál olyan alkalmazásokhoz, mint a TIRF.

Beépített érzékelő érzékeli a mikroszkóp alkatrészek állapotát

A mikroszkóp állapota a lapos táblán vagy a mikroszkóp elülső panelének állapotjelzőjén keresztül látható. Ez lehetővé teszi az állapot ellenőrzését a sötét kamrában is.

Állapot jelző fény

|Műveleti lépések varázsló (Ti2-E/A)

A Ti2 kiegészítő varázslója interaktív, fokozatos útmutatást biztosít a mikroszkóp működéséhez. A funkció táblagépen vagy számítógépen is megtekinthető, és a beépített érzékelőkből és a belső fényképezőgépből származó valós idejű adatokat kombinálja. A segéd varázsló segíthet a felhasználóknak a kísérleti beállításokban és a hibaelhárításban.

|Hibaészlelés (Ti2-E/A)

Az ellenőrzési mód segítségével a felhasználó könnyedén ellenőrizheti, hogy a kiválasztott megfigyelési módszer összes megfelelő mikroszkóp alkatrésze a helyén van-e. Ha a kiválasztott megfigyelési mód nem sikerül megvalósítani, ez az ellenőrzési mód csökkenti a hibaelhárításhoz szükséges időt és erőfeszítést. Ez a funkció különösen hasznos a többfelhasználói környezetben, mivel minden felhasználó megváltoztathatja a mikroszkóp beállításait. A felhasználók előre programozhatják az egyéni ellenőrző programokat is.

A rosszul beállított alkatrészek megjelenítése

|Intuitív működés

A Ti2 teljes mértékben átalakult – a teljes karosszerkezettől kezdve minden gomb és kapcsoló kiválasztásáig és elrendezéséig – a tökéletes felhasználói élményt biztosítja. Ezek a vezérlők még sötét kamrákban is könnyen használhatók (a legtöbb kísérletet sötét kamrákban végzik). A Ti2 intuitív és könnyű felhasználói felületet kínál, amely biztosítja, hogy a kutatók az adatokra összpontosítsanak, nem pedig a mikroszkóp működésére és vezérlésére.

|Jól tervezett elrendezés a mikroszkóp vezérléséhez (Ti2-E/A)

Minden gomb és kapcsoló elrendezése az általuk szabályozott világítás típusán alapul. A transzúziós megfigyelés vezérlésére szolgáló gomb a mikroszkóp bal oldalán található, míg a leszálló fluorescencia megfigyelésének vezérlésére szolgáló gomb a jobb oldalon található. A rendszeres műveletek vezérléséhez használt gombok az első panelen találhatók. Ez a particionálási módszer könnyű a memória, és különösen gyakorlati, ha mikroszkópot használnak sötét kamrákban.

Duplex kapcsolás (Ti2-E)

A mikroszkóp tervezésébe integrált visszatérő kapcsolók kapcsolódnak olyan eszközök vezérléséhez, mint a fluorescens szűrő forgó lemeze és a objektív forgó lemeze. Ezek a kapcsolók szimulálják a fenti készülék érzését manuálisan, intuitív vezérlés érdekében. Ezek a kapcsolók egyéb funkciókat is integrálhatnak, hogy egy kapcsoló több kapcsolódó eszközt működtethessen. Például a fluorescáns szűrő forgatótárcsának visszatérő kapcsolása nemcsak a forgatótárcsát forgatja, hanem a fluorescáns zárt is kapcsolja be, ha a felhasználó megnyomja a kapcsolást. Ezek a kapcsolók továbbá programozhatók a kibocsátási szűrő forgótáblák és a külső fázisos egységek működtetésére.

Programolható funkció gomb (Ti2-E/A)

A gyorsbillentyűk úgy tervezték, hogy a felhasználók könnyedén testreszabhatják a funkciókat. A felhasználók több mint 100 funkció közül választhatnak, beleértve az olyan elektromos eszközök vezérlését, mint a zár, vagy akár az I/O-porton keresztül a külső eszközökre is, amelyek a kiváltó gyűjtéshez használhatók. Ezeknek a gomboknak módfunkciók is megadhatók, így az egyes elektromos eszközök mentésével bármikor megváltoztathatja a megfigyelési módját.

Fókuszgomb (Ti2-E)

A fókuszfelgyorsító gomb és a tökéletes fókuszrendszer (PFS) engedélyezőgomb a fókuszgomb mellett található. A különböző alakoktól függően a különböző funkciók gombjait érintéssel nagyon könnyen felismerhetjük. A fókusz sebessége az aktuálisan használt objektívnek megfelelően állítható be. Ez lehetővé teszi a felhasználók számára, hogy különböző objektívek között elérjék az ideális fókusz sebességét, így a mikroszkóp működése nagyon könnyű.

|Intuitív vezérlés vezérlőrúddal és táblával (Ti2-E)

A Ti2 vezérlőrúd nemcsak a hordozóasztal mozgását, hanem a mikroszkóp legtöbb elektromos funkcióját is vezérli, beleértve a tökéletes fókuszrendszer (PFS) aktiválási állapotát is. Megmutatja az XYZ koordinátákat és a mikroszkóp alkatrészeinek állapotát, ami nagymértékben megkönnyíti a felhasználó távoli vezérlését. A felhasználók a mikroszkóp teljes körű vizuális működési élményét is megvalósíthatják a vezeték nélküli helyi hálózaton keresztül mikroszkóphaz csatlakoztatott lapos táblázattal a Ti2 elektromos funkcióinak vezérléséről.